Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN (RAYOS X DIFRACCIÓN) - Coggle Diagram
TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN (RAYOS X DIFRACCIÓN)
Energy dispersive XRD
:question:Analiza estructuras cristalinas y transiciones de fase en tiempo real (in situ) bajo condiciones extremas (alta presión o temperatura) de forma rápida.
:warning:Se expone la muestra fija a un haz de Rayos X policromático (blanco) continuo y un detector fijo dispersivo en energía mide la intensidad de los fotones difractados.
Difractómetro de Rayos X por dispersión de energía (EDXRD) con detector semiconductor (de estado sólido).
ISO 21432, ASTM E2626.
Difracción en polvo
:question:Identifica fases cristalinas, mide el tamaño de cristalita, cuantifica mezclas de compuestos y analiza la pureza de materiales policristalinos.
:warning:Un haz monocromático de Rayos X incide sobre una muestra pulverizada finamente mientras el tubo y el detector giran
Difractómetro de Rayos X para polvo (con geometría Bragg-Brentano).
ASTM E928, ISO 13925.
Difracción en monocristal
:question:Determina la estructura molecular completa en 3D, incluyendo las posiciones exactas de los átomos, longitudes de enlace, ángulos y dimensiones de la celda unitaria.
:warning:Se hace incidir un haz colimado de Rayos X sobre un único cristal perfecto y aislado mientras este rota de forma controlada en un goniómetro de múltiples ejes.
Difractómetro de Rayos X de monocristal con goniómetro de 3 o 4 círculos y detector de área.
ISO 19214.
Difracción en película delgada
:question:Caracteriza la estructura cristalina, el espesor, la rugosidad de la superficie y la orientación preferencial (textura) de recubrimientos o películas muy delgadas sin interferencia del sustrato.
:warning:Se utiliza una configuración de incidencia rasante (GIXRD) donde el haz de Rayos X impacta la superficie a un ángulo fijo muy pequeño
Difractómetro de Rayos X de alta resolución
ISO 13067, ASTM E2521.
