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TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN (MICROSCOPÍA) - Coggle Diagram
TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN (MICROSCOPÍA)
Microscopía de fuerza atómica
:question:Obtiene imágenes de la topografía de la superficie de los materiales en 3D a escala nanométrica y mide fuerzas locales interatómicas.
:warning:Una punta ultrasensible (cantilever) barre la superficie del material; las desviaciones de la punta por las fuerzas atómicas se miden con un láser reflejado.
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM).
ISO 11039, ISO 13095.
Microscopía óptica
:question:Analiza la microestructura superficial de los materiales (tamaño de grano, fases, inclusiones y defectos) a escala micrométrica.
:warning:Se prepara la muestra (pulido y ataque químico) y se ilumina con luz visible a través de un sistema de lentes para magnificar la imagen.
Microscopio óptico metalográfico.
ASTM E112 (tamaño de grano), ASTM E3, ISO 4967.
Microscopía electrónica de transmisión y barrido
:question:Combina la alta resolución del TEM con las capacidades de mapeo y escaneo del SEM para analizar la estructura atómica y química interna de muestras ultradelgadas.
:warning:Un haz de electrones muy enfocado se enfoca en un punto atómico que barre la muestra delgada, y se detectan los electrones que logran transmitirla.
Microscopio Electrónico de Transmisión y Barrido (STEM).
ISO 22493.
Microscopía electrónica de transmisión
:question:Permite visualizar la estructura interna, dislocaciones, planos cristalográficos y defectos de red a nivel atómico.
:warning:Se atraviesa una muestra extremadamente delgada (menos de 100 nm) con un haz de electrones de alta energía, creando una imagen de proyección basada en la densidad del material.
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM).
ISO 22493, ASTM E2142.
Microscopía electrónica de barrido
:warning:Un haz de electrones enfocado barre la superficie de la muestra en alto vacío, detectando los electrones secundarios o retrodispersados emitidos.
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) (con detector EDS opcional).
ASTM E986, ISO 16700.
:question:Observa la morfología, topografía de alta resolución (como superficies de fractura) y permite el análisis químico elemental cualitativo mediante EDS.
