Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
Visão dos estudos realizados (11 artigos lidos) - Coggle Diagram
Visão dos estudos realizados (11 artigos lidos)
Benchmark
(2) Siemens e SIR (
http://sir.csc.ncsu.edu/portal/index.php
)
(2) Siemens
(1) SIR (
http://sir.csc.ncsu.edu/portal/index.php
)
(2) Defects4J
(1) Outros
Fonte das Informações Utilizadas
Matriz de Espectro de Fluxo de Controle (5)
Selecionar um subconjunto de casos de teste do conjunto de testes original, para uma localização eficaz de defeitos.
É proposto uma rede conceitual do espectro do programa (CLPS). São propostas três estratégias para as declarações do programa: declarações perigosas (têm maior probabilidade de serem defeituosas), declarações seguras (são menos prováveis de serem defeituosas) e declarações sensíveis (são declarações suspeitas de serem defeituosas). A partir dessa classifiaçào é aplicado a seleção dos casos de teste.
Redução do ruído
É proposto sete esquemas de redução de ruído para eliminar casos de teste que fornecem informações duplicadas e ambíguas e avaliar as melhorias de desempenho resultantes nas métricas SBFL.
É fornecido um guia para os profissionais de SBFL selecionarem o esquema de redução de ruído com melhor desempenho para as métricas de SBFL.
Métrica DDU (Density, Diversity e Uniqueness)
density: garantia de que os componentes estejam frequentemente envolvidos em testes;
diversity: garantia de que os componentes sejam testados em diversas combinações;
uniqueness: favorecendo espectros com menos ambigüidade entre os componentes.
Produzir novos caso de teste, a partir de casos de teste existentes (2)
Spectrum-based Bayesian (geração de testes com alta densidade de cobertura)
Geração de novos casos de teste com EVOSUITE e selecionar os novos casos de teste cujos espectros sejam diferentes de qualquer um dos originais
Outros (3)
(2) Geração de dados de teste, com o objetivo de aumentar a taxa de cobertura.
Redução do conjunto de testes baseado na distância.
3 artigos foram descartadados pelo fato de não estarem ligados diretamente com a proposta do estudo
** Esta muito evidente que a eficiência das técnicas de localização de defeito, possui relação direta com a qualidade dos dados de teste