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非球面光学元件面型检测, Phase Measuring Deflectometry, PMD - Coggle Diagram
非球面光学元件面型检测
检测方法
干涉法
零位检测
非零位检测
非干涉法
光阑检验法
探测器上光斑的横向偏移量算出波前斜率,用波前重构算法待测面型的重构波面
hartman 方法:受光阑或微透镜口径研制,无法检测大非球面引入的大畸变波前,横向分辨率低
条纹调制法
利用投影到待测面上的条纹光作为载频,通过分析待测面引入的条纹畸变求出待测面型
结构光法(漫反射、镜面反射)
将某种结构光(大多是余弦条纹光) 投影到待测非球面上,而受待测面调制的条纹光就携带了待测面的面型信息,对其进行解调即可求得待测面的面型。
条纹投影 FPM
粗糙带侧面,漫反射,相机接收
条纹反射 FRM
光滑面,镜面反射相机接收
Ronchi 检验
逐点扫描法
轮廓仪
3次元
测面上离散点的矢高并通过拟合得到面型数据
轮廓仪或CMM 采用的机械探针与待测面直接接触,属于有损检测
阴影法
特点:低精度(um),用于初期研磨和粗抛光
Phase
Measuring Deflectometry, PMD