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对异质电催化剂的结构演变，活性点和稳定性的研究 - Coggle Diagram

- - - - 各种电催化过程的活性位点来源可区分为；成分浸出、原子重排、相变或中间物形成的结构演化。
- - - - 施加的电压是克服电化学反应的最小吉布斯自由能障碍的必要驱动力。也就是说，施加的电压可能会超过活性位点的氧化还原电压，从而使电催化剂的组成和结构发生可能的变化
    - - 电解质对电催化剂性能的影响主要体现在PH值或者阳离子大小上
- - - - XAS是硬X射线体系中的一个突出工具，是确定活性位点的局部环境的重要手段
        
        EXAFS部分（扩展X光吸收细微结构）
        
        通过对EXAFS数据和标准EXAFS方程进行最小二乘法曲线拟合，可以得到定量的结构信息，如键长和配位数。
        
        XANES部分（X光吸收细微结构）
        
        除了化学键，XANES计算与拟合分析相结合，可以通过分析实验XANES光谱和许多理论光谱之间的差异（如键长和键角）来识别空位、缺陷或不对称性等原子结构/构型
    - - 与XAS相比，XRD技术更适合研究高度结晶的电催化剂在反应过程中的长程结构变化。通常采用原子对分布泛函（PDF）数据分析来揭示距参考原子一定距离的单位厚度球壳中的原子序
    - - XPS是一种表面敏感的工具，可以同时检测分子/纳米级催化剂的化学成分、电子和氧化状态
  - - - IL TEM在跟踪相同粒子反应前后的变化方面有很大优势，但对固体-液体-气体界面上的活性点的分析评估能力不足
    - - 能够对物理迁移、形态演变和成分变化进行实时成像
    - - AFM是现今流行的非接触式表面表征技术。原子般锋利的针尖在表面上扫描，探测针尖和表面原子之间的力的变化，然后通过记录与微悬臂相对应的扫描点的位置变化，以原子分辨率绘制出表面地形图。