Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
แบบทดสอบทางสติปัญญา - Coggle Diagram
แบบทดสอบทางสติปัญญา
Detroit Tests of Learning Aptitude – 4
ปีที่พิมพ์ 1935
กลุ่มที่ใช้
เด็กนักเรียน 6 - 17 ปี
ลักษณะ
10 Subtests
คะแนนจาก 10 Subtests นำไปใช้คำนวณ
General member ability composite
เกิดจากนำ standard scores ของ 10 subtests มารวมกัน
Optimal Level Composite
คะแนน standard scores ที่สูงสุด 4 standard scores
Composite ที่เหลือ
เกิดจากการผสมกันเอง subtests ต่าง ๆ
Multiple Aptitude Test Batteries
The Differential Aptitude Test (DAT)
ประกอบด้วย
Perceptual speed and Accuracy (PSA)
Mechanical Reasoning (MR)
Abstract Reasoning (AR)
Space Relations (SR)
Numerical Reasoning (NR)
Spelling (S)
Verbal Reasoning (VR)
Language Usage (LU)
The General Aptitude Test Battery (GATB)
1930s
The U.S. Department of Labor สร้าง Aptitude Test เพื่อทำนาย Job Performance ใน 100 อาชีพ
1940s
The U.S. Department of Labor จ้าง I/O Psychologists and expert of measurement
สร้าง a multiple aptitude test battery เพื่อวัด 100 อาชีพที่กล่าวมาแล้ว
The Primary Mental Abilities Test
Thurstone
7 Tests
First Multiple Aptitude test Batteries
The Armed Service Vocational Aptitude Battery (ASVAB)
10 subtests
คัดเลือกทหาร
334 multiple-choice items
The Wechsler scale Intelligence
แบ่งเป็น
WISC-IV
กลุ่มอายุที่ใช้
อายุ 6 ปี – 16 ปี 11 เดือน
WPPSI-III
กลุ่มอายุที่ใช้
อายยุ 3 ปี – 7 ปี 3 เดือน
WAIS – IV
กลุ่มอายุที่ใช้
อายุ 16 – 90 ปี 11 เดือน
The Wechsler subtests: Description and Analysis
ข้อมูล
ความรู้เกี่ยวกับบุคคล สถานที่ เหตุการณ์ธรรมดา
วัด general knowledge
ทุกคนที่อาศัยและเติบโตอยู่ใน western industrialized nations จะต้องมีความรู้ดังนี้
Subtest นี้วัด
Learning and memory skills ที่ได้จาก Format + Informal Education
Information retest
Format Education
Academic achievement
Digit span
Digit Forward
ตัวอย่าง
6 – 1 – 3 – 4 – 2 – 8 - 5 ให้ทวน 6 – 1 – 3 – 4 – 2 – 8 - 5
Digit Backward
ตัวอย่าง
6 – 1 – 3 – 4 – 2 – 8 - 5 ให้ทวน 5 – 8 – 2 – 4 – 3 – 1 - 6
Vocabulary
Arithmetic
Wechsler Adult Intelligence Scale – IV
แบ่งเป็น
Perceptual Reasoning Index
Matrix Reasoning
Visual Puzzles
Block Design
Working Memory Index
Digit span
Arithmetic
Verbal Comprehension Index
Vocabulary
Information
Similarities
Processing speed index
Symbol Search
Coding
Kaufman
ลักษณะ
Subtests และ Factors ของ MAB-II
แต่เป็น Multiple-Choice format
ตรวจให้คะแนนด้วย Computer
คู่ขนานกับ WAIS-R
Subtest แต่ละ subtest ของ MAB-II
Clone มาจากWAIS-R
10 Subtest
MAB – II ไม่มี subtest ส่งผล Digit span
Digit span subtest มีค่า Corr กับ คะแนนรวม WAIS-R ต่ำสุด
Digit span subtest มีประโยชน์น้อยมากในการวัด Intelligence
เป็นการยากที่จะสร้าง Digit span
ในแบบ paper – pencil format
MAB – II ต่างจาก WAIS-R
Spatial subtest แทน Block Design (WAIS-R)
Predicting College Performance (แบบทดสอบที่ใช้เพื่อทำนายผลการเรียนระดับมหาวิทยาลัย)
แบ่งเป็น
The Scholastic Assessment Test (SAT)
เดิมชื่อ Scholastic Aptitude Test
ศึกษาต่อระดับ ป.ตรี
The American College Test (ACT)
Postgraduate Selection Tests
หลังป.ตรี
Medical College Admission Test (MCAT)
สมัครเข้า Medical School
Law School Admission Test (LSAT)
Graduate Record Exam (GRE)
Graduate program