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G4 SM6375 model uMCP 64+4 HR AL Field Fail - Coggle Diagram

- - - - 不良なし
        
        NAND 基本Function PASS
        
        不良率>500-1000ppm
      - 低確率不良可能性
        
        Aging Testによる分析必要
      - Erase状態 Physical Blockが Mapping された状態
        
        Read Error発生
        
        Readは最後の状態、経緯は不明
        
        ProgramされたNANDがMapされるべき
    - - 問題なし
        
        不良率>500ppm-1000ppm
        
        PRL0004
        
        PRL0009へのUpdateで対応した部分について懸念はあるが、不良率が高すぎ非該当であると推定
    - - 低確率の不良可能性
        
        Aging Testによる分析必要
    - - Keeping Condition
        
        保存状態
      - Ball Connection
        
        UFS内部 Mapping関連不良なので影響なし？