Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
測量儀的選擇方法 - Coggle Diagram
測量儀的選擇方法
依據刻度單位選擇
0.1 mm
以0.1 mm為單位的量測，一般會使用的是游標卡尺和高度規。其最小刻度為0.02 mm或0.05 mm
0.01 mm
以0.01 mm為單位的量測，經常使用的是分厘卡和千分錶。以阿貝原理為基礎
1 mm
刻度以1 mm為單位進行量測的工具中，最常用的就是直尺
0.001 mm
以微米為單位進行量測，可使用指示分厘卡；量測時必須要注意塵埃的附著。
0.0001 mm
分厘卡等機械式測量儀器能夠量測到1 µm，但不容易量測到次微米單位。可使用雷射式的長度測量儀或數位分厘卡、非接觸式測量儀等
量測環境要求較高
依據目標物選擇
材質堅硬或柔軟
硬度較高的目標物時，目標物較不易變形，;柔軟的目標物，較容易產生變形，因此較不容易量測
尺寸的大小選擇
次微米之類的極小目標物，可進行非接觸性的量測，數公尺的目標物，可使用長尺進行簡易的測量
形狀簡單或複雜
目標物的形狀越是簡單，就越容易量測尺寸,形狀複雜的目標物尺寸較不容易量測，
透明或非透明選擇
非透明的目標物可利用各種測量儀器進行量測,若要量測透明薄膜的厚度等，光的穿透率較高的目標物，則需要較多的工時
依據用途選擇
角度的量測
用於確認直角度的工具有直角定規及直角度測量儀
孔徑的量測
量測孔徑
游標卡尺
量測直徑較大的輪狀目標物
分厘卡、缸徑規、小徑測量儀、塞規
光學精密量測
投影機、工業顯微鏡
長度的量測
在製造現場量測長度時，一般會使用直尺、捲尺或塊規進行量測長達數公尺的目標物，若要進行更精密的量測，可使用游標卡尺、千分錶或分厘卡
座標的量測
需要進行光學精密量測
投影機、工業顯微鏡、二次元或三次元測量儀
若要進行半導體
光波干涉標準測量儀
量測孔洞位置
偏心游標卡尺、孔洞螺距規、高度規、針規
依據成本選擇
成本稍高(中)
千分錶和高度規及分離卡；進行以0.01 mm為單位的量測和以1µm為單位進行量測的精密測量儀器
價格較高(高)
手動操作量測、以及設計程式以進行自動量測；依據量測的目標物、用途及精度來選擇適合的機種
低成本
直尺、捲尺和游標卡尺等，可進行以0.1 mm為單位的量測
依據量測環境選擇
量測室
優點
可進行高精度的量測，會使用雷射式的長度測量儀或影像尺寸測量儀等，可輕鬆進行高精度的量測。
缺點
目標物如果是金屬時，則有發生熱膨脹的可能。為進行精密的量測，必須注意要讓目標物達到室溫
辦公室
優點
污染等風險較低
缺點
難以實現在量測室進行的精密量測，由於可能會有多人進行量測，一旦測量儀器的管理鬆懈，存在無法實現正確量測的風險，必須事先規定儀器的管理者與管理標準
製造現場
優點
生產作業現場看到的有游標卡尺、分厘卡及塊規等。，可提供0.1 µm的尺寸及平行度精度保證，對於量測加工物的尺寸而言極為重要。組合多個塊規即可量測各種長度
缺點
製造現場通常會有塵埃、油及加工碎屑，測量儀器可能會髒污或損傷而產生誤差
依據量測速度選擇
以手動作業方式確實量測
為了更正確地量測，必須進行多次的量測。若要量測多個目標物，由於較花費時間，因此不太適合
自動快速量測
可瞬間量測複雜目標物的多個部位尺寸。無需進行多次量測，即使有多個目標物，也能自動快速地量測。