Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
Microscopy and Microstructure - Coggle Diagram
Microscopy and Microstructure
Microscopy : เกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์
ใช้ในการสังเกตสิ่งที่มีขนาดเล็ก มองไม่เห็นด้วยตาเปล่า
ใช้ร่วมกับเครื่องมือวัดค่าอื่นๆ
ใช้ร่วมกับโปรแกรม Image Analysis :arrow_forward: บอกรายละเอียดของตัวอย่าง
ให้ข้อมูลเชิงคุณภามพมากกว่า
Microstructure : โครงสร้างระดับจุลภาค
การวัดค่าคุณภาพส่วนใหญ่ได้ค่าออกมาเป็นตัวเลข การใช้กล้องจุลทรรศน์เข้ามาช่วย :arrow_forward: อธิบายโครงสร้าง/การเปลี่ยนเเปลงระหว่างแปรรูป
ชนิดกล้องจุลทรรศน์
Stereo microscope
ใช้ในการดูพื้นผิวของวัตถุ/ไม่ต้องมีการเตรียมตัวอย่าง
Light microscope/ Compound Microscope (LM)
Reflected light
ใช้กับตัวอย่างที่มีลักษณะทึบแสง /หนา 30 ไมครอน
แสงไม่สามารถส่องผ่านได้
ใช้แสงที่สะท้อน+ประมวลเป็นรูป
Bright field
ตัวอย่างมีลักษณะบาง แสงส่องผ่านได้
อาจย้อมสีตัวอย่าง :arrow_right: เห็นได้ชัดเจนขึ้น
Phase Contrast/Differential
Interference Contrast
ใช้การเปลี่ยนเฟสของแสง :arrow_right: เกิดความแตกต่างของภาพมาขึ้น
ความเเตกต่างของเเสงขึ้นกับความเเตกต่างของค่าดัชนี การหักเหของเเสงระหว่างตัวอย่าง-สิ่งเเวดล้อม
DIC-เห็นภาพชัดกว่า/ช่วยตัดเเสงส่วนเกินได้
Phase Contrast-เห็นรายละเอียดของภาพมากขึ้น
Polarized
เปลี่ยนการเดินทางของแสง
เพิ่มส่วนประกอบ filter = Polarizer + Analyzer (วางทำมุม 90 ํ )
ใช้กับตัวอย่างที่มีโครงสร้างเป็นผลึก
Fluorescence Microscope
ให้พลังงานกับสาร-ทําให้เกิดการเรืองแสง
ปลดปล่อยความร้อน + ความยาวคลื่น (fluorescence)
แหล่งกำเนิดเเสง : Mercury- มีพลังงานสูง
มี Excitation Filter-ยอมให้ความยาวคลื่นตัวที่จะส่งไปกระตุ้นสีย้อมผ่านได้อย่างเดียว (ความยาวคลื่นที่สารต้องใช้พลังงานนัั้นเปลี่ยนจากสถานพื้น :arrow_right: กระตุ้นได้)
มี Emission Filter-ยอมให้สีที่ต้องการผ่านได้อย่างเดียว (ความยาวคลื่นที่ปลดปล่อยออกมาในระหว่างการลดระดับจากสถานกระตุ้น :arrow_right: พื้น)
เห็นภาพชัดเจน/บอกได้ว่าอนุภาคไหนเป็นชนิดเดียวกับอันไหน
มี Dichroic mirror-ตัวกรองให้ลักษณะที่ต้องการผ่านไปได้
ข้อดี
ตรวจวัดตัวอย่างที่ความเข้มข้นต่ำได้
แสดงภาพวัตถุที่ LM ไม่สามารถตรวจจับได้
มีความจำเพาะ
เร็ว
ง่าย
ข้อเสีย
หาสีย้อมที่เหมาะสมยาก
เเพง
Confocal Laser Scanning Microscope (CLSM)
แหล่งกําเนิดแสง : แสงเลเซอร์
หลักการของเครื่องคล้าย Fluorescence microscope
ข้อดี
ภาพที่ได้มีคุณภาพ(เก็บภาพเป็น layer/ภาพไม่เบลอ)
ใช้กับตัวอย่างที่หนาได้
ไม่ทำลายตัวอย่าง
ใช้หลักการย้อมสีเฉพาะกับตัวอย่าง
Resolution : (กำลังขยาย) ระยะระหว่างจุด 2 จุดที่น้อยที่สุดในตัวอย่างที่ยังเห็นแยกกันเป็น 2 จุด
Electron microscope
Transmission electron (TEM)
แหล่งกําเนิดอิเลกตรอน : electron gun (Tungsten filament)
พลังงานที่ใช้ให้ความร้อน 40 – 100 kV
ภาพที่ได้เห็นจาก fluorescent screen /photographic plate
การเตรียมตัวอย่าง : ยาก(ต้องบาง)/ทำลายตัวอย่าง/fix ด้วย aldehyde และ osmium tetroxide
Scanning electron (SEM)
พัฒนาจากกล้อง LM และ TEM
เตรียมตัวอย่างง่ายขึ้น
สังเกตได้ทั้งส่วนที่เป็นพื้นผิวเเละรายละเอียดภายใน
กําลังขยายสูง
ภาพที่ได้ต้องเก็บจากคอมพิวเตอร์
การเตรียมตัวอย่าง : เคลือบด้วยทอง/พัลลาเดียม (เพิ่มค่าการนําไฟฟ้า :arrow_right: สังเกตตัวอย่างได้ชัดขึ้น), มีความชื้นต่ำ
แหล่งกําเนิดแสง : ลําแสงอิเลกตรอน
กําลังขยายสูงกว่า LM พันกว่าเท่า
ใช้สังเกตโครงสร้างภายในรายละเอียดที่เป็นไมครอนเล็กๆได้
ถ้าอยากให้สัญญาณภาพดีควรทำในสภาวะสุญญากาศ