Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
Microscopio electrónico de barrido (SEM) - Coggle Diagram
Microscopio electrónico de barrido (SEM)
Computadora que controla el SEM.
El haz de electrones se enfoca en la sección cilíndrica superior.
El rayo ingresa a la sección cubica donde las muestras se bombean al vació .
Los SE y los BSE de la muestra forman la imagen.
Fuentes de electrones
La corriente pasa por un filamento h
Se aplica un voltaje entre el filamento y la capa exterior del cañón de electrones.
Un pequeño orificio en la cubierta exterior permite que algunos de estos electrones se pulvericen hacia abajo.
ley de la fuerza
multiplicamos la magnitud de v solo por la componente de B perpendicular a ella.
Luego descartamos el componente paralelo porque no crea fuerza sobre este electrón.
Lente magnética
Esta lente enfoca los electrones en un haz paralelo estrecho.
El ancho de este haz determinará la resolución del SEM
El SEM de ultima generación producen haces de 10 a 100 Angstroms de ancho
multiplicador de electrones
los fotones expulsan electrones que se mueven hacia las placas metálicas curvas.
Cada nueva placa está polarizada unos cien voltios más positivos que la última.
cada electron que son expulsados de la primera placa (a baja energía) expulsan múltiples electrones
da como resultado que un solo fotón puede producir millones de electrones.
El escaneo SEM se puede reducir aún más a áreas cada vez más pequeñas.
El haz de electrones alcanza la V antes cuando escanea desde los bordes de su patrón