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智慧路燈, 色彩說明, 提高運算性能 - Coggle Diagram
智慧路燈
電力監控準確度
Sample Rate不足
提高Sample Rate
運算能力不足
提高運算性能
突波雜訊等干擾變小
提高MCU,ADC速度
提高ADC速度後
精度有明顯變差
取樣電路元件誤差
電阻誤差
更換誤差更小電阻
特選電阻
測試結果:有效
3.3v Regulator誤差
更換更穩定的 3.3V Regulator
特選3.3V Regulator
測試結果:有效
Sample Size不足
提高Sample SIze
暫維持原狀
運算能力不足
提高運算性能
對電壓電流變化反應變慢
取樣時間變長,壓縮MCU做其它事時間
突波雜訊干擾變小
採移動平均式取樣
對電壓電流變化反應變慢
突波雜訊干擾變小
Sample Timing不準
軟體UART與
485溝通造成的取樣時序誤差較大
軟,硬體UART對調降低延遲
測試結果:單次碰撞從4~6ms減少到8us
485輸出有點怪怪的
要軟UART跟硬UART一起送才有反應
提高運算性能
使用其它軟體UART Lib
目前測試AltSoftSerial與其它Lib有衝突
軟體優化不足
持續進行優化調整
ADC解析度問題
EX:提高電壓區間範圍(up to 460v)影響精度
增加Sampling電路組數
運算能力不足
提高運算性能
更換ADC解析度更高MCU
對照組數值浮動較大
穩定電壓:使用AVR測試
使用水泥負載測試
485反應慢
(取樣時不回應485訊號)
多設備時SERVER輪循效率差
增加獨立單元處理485訊號
雙MCU架構或更換雙核心MCU
在較長的處理過程中穿插處理485
(只能改善,沒法根治)
累積值問題
EEPROM寫入壽命
不足應付5-10年累積值寫入次數
寫入區間先拉長至每小時
拉長寫入區間
斷電時遺失資訊較多
增加外部儲存裝置
暫無方案
軟體設計平均抹寫
演算法複雜,DEBUG時間較長
佔用大量EEPROM空間
對EEPROM可靠度依賴仍然很高
總工告知此做法也不建議
EEPROM本就非設計給頻繁寫入的情境
資料型別不足以存放5-10年mW累積值
改為unsigned long long(64bit)
資料長度較長,運算及讀寫速度較慢
佔用EEPROM空間較多
改以W為單位
精度降低
EEPROM沒有資料完整寫入保證
設計CHECKSUM機制及Fail safe 機制
判別數值完整性及回溯功能
佔更用多空間
色彩說明
可能帶來的益處
可能存在的問題
解決方式
進行中的解決方式
暫時解決的問題
永久解決的問題
測試後未能解決的問題
暫時擱置的問題
提高運算性能
問題
成本提高
電路變更幅度大
現有程式變更幅度大
提高自身耗電量
成本提高
更換速度更快MCU
部份MCU提供更多功能
如WIFI、藍芽、觸控、Hall Sensor等
部份MCU ADC性能較高
好處
日後軟體新增新功能空間較大
(Flash,RAM較大, 運算能力提升)
取樣性能增加
(精度、速度及暫存能力)
提高Atmega328p運行速率
改為兩顆Atmega328p