Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
INX FAB6 Report System pp/pp - Coggle Diagram
INX FAB6 Report System
pp/pp
Array
WIP Status
@ Lot Information
(T02D) Pass Lot Summary Report
俗稱拉Pass lot,處理異常時要知道異常機台產出的產品清單,可以秀lot ID,Glass ID,以lot ID或Glass ID為基礎框立區間.
(T018) Lot Query Report
主要是可以看HOLD Photo的LOT有多少/原因,一般是用來查有沒有貨被hold在7710.
(T01D) Lot Information Report
可查詢GLASS ID PPBOX ; 批次查詢玻璃的所在站點
(T031) Glass/Lot History Report
Glass/Lot HISTORY 與 OPI類似,查詢玻璃在各站點過帳的玻璃,及各站點的comment,有時候前層造成的異常可以查出來.
(T028) Multi Chamber Slot of Lot Report
可以查玻璃在某個站點,在什麼時間點run什麼機台,而且是在什麼子chamber.
@ WIP Control
(T011) WIP Lot Summary Report
可確認WIP狀況 & 查詢控片站點
(T012) Wip Distribution Chart:看各層各產品在各站點的
堆貨水位.
@ Daily Review
(T032) Daily Report (檢測平均時間)
匯出一天下來廠內狀況的報表,
包含報廢片數,rework片數,設備當機次數,當機時數等資訊
@ Special
(T033) 異常分析報表系統
可查詢異常單,與OPI異常單系統類似
@ Rework/Sampling/Repair Rate
(T023) Rework Report
by機台by defect code顯示rework片數,
可以看到GID,報告R/W會用到.
Entity
(A054) Entity History Report
查詢機台狀況的功能
(T052) Entity Recipe Report
查機台可以run的recipe,機台Recipe建帳、幾日內有Run過狀態查詢、某個產品在某個站點,不管是以站點為主還是機台為主也都可以查
(A052) Entity Status Summary Report-Old(new)
機況查詢,ver意思是"第一層是哪台機台做的"
(A055) Daily Productive Status Report (電子工單)
機況查詢必備 - 詳細電子工單
(T05A) Entity Tact Time管理及分析報表
TactTime分析必備
(T051) Entity Visual Pass Lot (With Status)
把各批run貨時間以橫條圖表示,並標示tacttime,可以即時掌握tacttime狀況.
(T053)Cassette Reject Flag Report
查CST上port被系統Cancel的Comment
帳料不符(mapping的DATA跟系統的帳不符)
Recipe版本不符(recipe內容跟最近註冊的內容不符)
光罩不存在(該批生產使用的光罩不在機台)
Material
@ Mask
(A05A) 光罩管理系統
查某塊光罩在什麼位置 - 但若光罩手動搬離到非機台內則不會更新
ENG(TFT 6)
TFT CD/OL Report
查詢黃光特性值,CD/OL/TP/DCD/DOL...等
FAB6 TFT EDC Query
EDC上報系統可以撈製程資料,機台EDC查詢,查SDCO 同HP的玻璃也用這個
TFT InLine Repair Trend report
處理移動區間問題,by 時間的 trend chart,inline defect 查詢使用
T EDC X 因子 Trend Chart
可查 plate pre shift
SPC Analysis
可以用來分析CD機差工具
共通機台比對 report
(TFT Common EQP report)
共通機台查詢比對,可以用來查詢某幾批貨有沒有使用到共同的機台
TFT EDC X 因子 Alarm
查詢機台 alarm 歷程
SPC
TFT SPC
TFT On Line Chart Report
1.查看 chart 定義
2.也可以找是否需要濾點(找chart的定義資料)
INT
TFT INT Report
In Time and Daily Report
測試區良率分析