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emission spectroscopy based on plasma source - Coggle Diagram

- - - - 固定grating，轉slit和detector(PMT) 轉動，依序擷取不同波長
      - 用馬達(恆定速度、角度)使grating轉，依序掃描不同的波長強度
    - - slew-scan spectrometer
        
        用兩段速的馬達(快&慢)，有訊號的地方慢慢讀，沒訊號的範圍就快速移動過去
        
        很快移動到所要訊號的附近，再慢慢掃描
      - scanning echelle spectrometer
        (用grating&prism配合去分開波長)
        
        可以傳送訊號的範圍變成二維的(多xy軸的面)
        
        detector(PMT)的移動式可以斜線移動的，掃描速度更快
  - - - 責任分區，增加PMT負責不同波長範圍，同時運作
      - A. paschen-runge design
      - B. 在rowland circle 的周圍佈滿
        
        entrance slit
        
        diffraction grating
        
        exit slit
        
        mirrow
        
        PMT
      - C. 多個PMT在slit(固定的)的後面，沿著圓弧的位置，去偵測不同的區段
    - - CCD
      - CID
        
        Prism
        
        Grating
        
        每一個element(read window)用來個別讀取不同波長(共39個)
        
        除了中間的9個center elements讀spectral line其餘兩側讀取background
  - - - 會將分析物溶解/懸浮在solvent裡
      - plasma可以直接測顆固體粒(相較火焰)
    - - 可以測金屬元素(導體)
      - 若測非金屬，spectrometer需要在真空狀態下，因為這些元素所放出的emission line多落在uv，可能會被空氣中的分子吸收radiation
      - 1A族大多落在接近IR的位子，不同於其他元素大多落在UV
    - - 有些元素的有很多 emission line
      - 波長會落在那裡可以找的到(公開出版品)
      - 找不會受到其他物質干擾的 emission line (每個分析物不同)，不希望產生overlap
    - - I(電流) v.s 濃度
      - 線性偏差
        
        低濃度得到的值比理想線性來的高
        
        background 沒有扣好
        
        高濃度得到的值比理想線性來的低
        
        因為 selr-absorption (離子濃度高，能量交換的機率也會提高)
      - internal satandard
        
        額外加入其他物質作為(內部校正)
    - - 化學干擾和基質干擾在ICP都會變得比較小
        
        因為電子多，所以離子形成少
        
        因為溫度高，氧化物無法存在，都是以原子化存在
      - 當代測物濃度低，會因為argon的再結合形成的background被干擾
      - spectral interference
        
        會有很多的訊號的干擾，因為溫度高，任何元素都會放出訊號
    - - ICP的測量極限低