Please enable JavaScript.

Coggle requires JavaScript to display documents.

Các phương pháp phân tích vật liệu - Coggle Diagram

- - - - Nguyên tắc
        
        chiếu tia X tới tinh thể mẫu, bị nhiễu xạ các hướng đặc biệt , đo góc và cường độ của tia nhiễu xạ
      - ứng dụng
        
        cấu trúc pha rắn vật liệu
        
        Thành phần pha, kích thước ô mang
        
        kích thước tinh thể
      - Đặc tính : nhanh, chính xác, không phá mẫu
  - - - Định lượng nhạy bề mặt
      - Nguyên tắc: Tia X năng lượng thấp chiếu tới, kích thích mẫu sinh electron quang sinh từ bề mặt --> Đo động năng của e --> năng lượng liên kết
      - Kết quả: cấu trúc bề mặt, trạng thái hóa học và môi trường hóa học của nguyên tố trên bề mặt
      - Đặc tính
        
        đặc hiệu bề mặt, chính xác, không phá mẫu, cần chân không
    - - nguyên tắc
        
        Chiếu bức xạ --> đo bức xạ phản xạ hoặc truyền qua --> xác định bức xạ hấp thu
      - ứng dụng
        
        phân tích cấu trúc bề mặt của liên kết cộng hóa trị
        
        nhận biết nhóm chức đặc biệt trên bề mặt
        
        vùng vân tay cho đặc trưng của mẫu vật liệu
      - Đặc tính
        
        phân tích bề mặt, nhanh, không phá mẫu, không cần chân không
    - - nghiên cứu bề mặt vật liệu và liên bề mặt giữa các lớp vật liệu
      - Nguyên tắc
        
        chiếu bức xạ ánh sáng Vis (laser) lên mẫu
        
        hầu hết phonton khuếch tán đàn hồi
        
        Một lượng photon tán xạ không đàn hồi --> đo bức xạ tán xạ --> tính được dentaE tương ứng với các thay đổi tư các dao động --> đặc tính bề mặt
      - Ứng dụng: cấu trúc bề mặt mẫu, các nhóm chức
      - Đối tượng: rắn bột lỏng khí, vô cơ, hữu cơ, polymer
        Chú ý: không thích hợp cho kim loại và hợp kim
      - Đặc tính: bề mặt sâu ~ 1micromet, nhanh, không phá mẫu, không cần chân không
- - - - thành phần pha
      - Thành phần nguyên tố
      - Thành phần hợp chất
    - - khối
        
        phổ phát xạ
        
        AES
        
        Dùng cường độ của ánh sáng phatsra từ mọn lửa, plasma, hồ quang điện --> xác định hmaf lượng 1 nguyên tố trông mẫu
        
        Nguyên tắc: khi phân tử/ nguyên tử nhận năng lượng
        
        Ứng dụng: định tính và định lượng trong khối mẫu
        
        Phạm vi
        
        Điều chỉnh các kim loại kiềm trong dược phẩm
        
        Phát hiện kim loại vết
        
        xác định các nguyên tố trong mẫu
        
        Đặc tính: khối, nhanh, có thể phá mẫu
        
        Phổ hấp thu
        
        AAS
        
        Phân tính định lượng thành phần nguyên tố trong mẫu thông qua sự hấp thu ánh sáng cuả các nguyên tử tự do
        
        nguyên tắc: khi một phân tử/nguyên tử được chiếu sáng
        
        Ứng dụng: định tính định lượng các nguyên tố trong khối mẫu, độ nhạy cao
        
        Phạm vi : Khoa học môi trường, công nghệ thực phẩm, dược phẩm, hóa dầu
        
        Đặc tính: khối, nhanh, phá mẫu
        
        Phổ huỳnh quang tia X (XRF)
        
        Phân tích định lượng dựa vào sự phát xạ của tia X thứ cấp do mẫu bị kích thích bởi 1 tia X năng lượng cao
      - bề mặt
    - - định tính
      - định lượng