Please enable JavaScript.
Coggle requires JavaScript to display documents.
Các phương pháp phân tích vật liệu - Coggle Diagram
Các phương pháp phân tích vật liệu
Các phương pháp tổng hợp
Phan ứng dung dịch
Phản ứng pha rắn
Đồng kết tủa
Sol-Gel
CVD
Sóng điện từ
Tương tác với vật chất
Đàn hồi
năng lượng tia ló bằng năng lượng tia tới
Không đàn hồi
năng lượng tia ló nhỏ hơn tia tới
Chùm điện từ
Điện tử thứ cấp
Điện tử tán xạ ngược
Điện tử Auger 0,4-5 nm
Tia X năng lượng thấp
Tia X năng lượng cao
Cấu trúc
khối
Cách sắp xếp nguyên tử
Thông số mạng
Các yếu tố đối xứng
Nhiễu xạ tia X
Nguyên tắc
chiếu tia X tới tinh thể mẫu, bị nhiễu xạ các hướng đặc biệt , đo góc và cường độ của tia nhiễu xạ
ứng dụng
cấu trúc pha rắn vật liệu
Thành phần pha, kích thước ô mang
kích thước tinh thể
Đặc tính : nhanh, chính xác, không phá mẫu
bề mặt
Cách sắp xếp nguyên tử trên bề mặt
Môi trường hóa học của nguyên tử
Phổ quang điện tử tia X (XPS)
Định lượng nhạy bề mặt
Nguyên tắc: Tia X năng lượng thấp chiếu tới, kích thích mẫu sinh electron quang sinh từ bề mặt --> Đo động năng của e --> năng lượng liên kết
Kết quả: cấu trúc bề mặt, trạng thái hóa học và môi trường hóa học của nguyên tố trên bề mặt
Đặc tính
đặc hiệu bề mặt, chính xác, không phá mẫu, cần chân không
Phổ hồng ngoại FTIR
nguyên tắc
Chiếu bức xạ --> đo bức xạ phản xạ hoặc truyền qua --> xác định bức xạ hấp thu
ứng dụng
phân tích cấu trúc bề mặt của liên kết cộng hóa trị
nhận biết nhóm chức đặc biệt trên bề mặt
vùng vân tay cho đặc trưng của mẫu vật liệu
Đặc tính
phân tích bề mặt, nhanh, không phá mẫu, không cần chân không
Phổ Raman
nghiên cứu bề mặt vật liệu và liên bề mặt giữa các lớp vật liệu
Nguyên tắc
chiếu bức xạ ánh sáng Vis (laser) lên mẫu
hầu hết phonton khuếch tán đàn hồi
Một lượng photon tán xạ không đàn hồi --> đo bức xạ tán xạ --> tính được dentaE tương ứng với các thay đổi tư các dao động --> đặc tính bề mặt
Ứng dụng: cấu trúc bề mặt mẫu, các nhóm chức
Đối tượng: rắn bột lỏng khí, vô cơ, hữu cơ, polymer
Chú ý: không thích hợp cho kim loại và hợp kim
Đặc tính: bề mặt sâu ~ 1micromet, nhanh, không phá mẫu, không cần chân không
Thành phần
Phân loại
Đối tượng
thành phần pha
Thành phần nguyên tố
Thành phần hợp chất
Vị trí
khối
phổ phát xạ
AES
Dùng cường độ của ánh sáng phatsra từ mọn lửa, plasma, hồ quang điện --> xác định hmaf lượng 1 nguyên tố trông mẫu
Nguyên tắc: khi phân tử/ nguyên tử nhận năng lượng
Ứng dụng: định tính và định lượng trong khối mẫu
Phạm vi
Điều chỉnh các kim loại kiềm trong dược phẩm
Phát hiện kim loại vết
xác định các nguyên tố trong mẫu
Đặc tính: khối, nhanh, có thể phá mẫu
Phổ hấp thu
AAS
Phân tính định lượng thành phần nguyên tố trong mẫu thông qua sự hấp thu ánh sáng cuả các nguyên tử tự do
nguyên tắc: khi một phân tử/nguyên tử được chiếu sáng
Ứng dụng: định tính định lượng các nguyên tố trong khối mẫu, độ nhạy cao
Phạm vi : Khoa học môi trường, công nghệ thực phẩm, dược phẩm, hóa dầu
Đặc tính: khối, nhanh, phá mẫu
Phổ huỳnh quang tia X (XRF)
Phân tích định lượng dựa vào sự phát xạ của tia X thứ cấp do mẫu bị kích thích bởi 1 tia X năng lượng cao
bề mặt
bản chất
định tính
định lượng