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分析式電子顯微鏡Ch8 (AEM成像 (改變中間鏡電流 (聚焦於聚焦平面, 聚焦於成像平面), 繞射對比 (明視野成像 (物鏡孔鏡擋繞射電子束,…

- - - - 物鏡孔鏡擋繞射電子束
      - 直射電子束成像
    - - 物鏡孔鏡擋直射電子束
      - 繞射電子束成像
  - - - 物鏡球面像差
      - 物鏡聚焦不當
- - - - 螢光幕
        
        電子照射螢光幕，陰極發光呈現影像
        
        亮度隨時間逐漸衰減
        
        爍光偵測器
        
        針對極短時間
        
        影像增強系統
        
        增加偵測靈敏度
        
        去除背景雜訊
      - 照相底片
        
        解析度由電子擴散雲&乳膠擴散顆粒而定
      - 半導體偵測器
      - 法拉第籠
    - - 靜電透鏡
      - 磁透鏡
        
        物鏡
        
        聚焦
        
        中間鏡
        
        決定放大倍率
        
        選擇繞射圖形or顯微影像
        
        投影鏡
        
        放大工作
    - - 側面置入
        
        操作容易
        
        大角度傾斜
      - 自上置入
        
        高分辨
    - - 電子槍
        
        鎢絲
        
        熱游離
        
        場發射
      - 聚光鏡
        
        散度小、亮度高、尺寸小電子束
        
        單聚光式
        
        多聚光式