Please enable JavaScript.

Coggle requires JavaScript to display documents.

原子光譜 (譜線變寬 (pressure, doppler, uncertainty, zeemen), 種類 (AE ((相較AA之)特性…

- - - - arc & spark
      - other
      - 電漿
        
        電漿源
        
        ICP感應耦合電漿源
        
        電漿外形
        
        flane like tail
        
        brilliant white core
        
        transparent region：測sample
        
        1原子化較完整，較少化學干擾2.氬多游離→樣品游離干擾少
        
        Microwave plasma
        
        成本較ICP低
        
        在AA/AE操作上較安全
        
        detection limit和ICP相當
        
        特性
        
        .溫度較高
        
        less sperta / chemical limit
        
        higher temperature than flame
    - - 2同激發條件，大部分元素光譜佳→適用多元素分析
      - 3可測低濃度且易形成耐火化合物之元素
      - 1高溫下個元素間干擾低
      - 4譜線多，便於定性；不適用定量。須高解析能力&昂貴光學設備
      - 由陽離子&電子/導電起體組成
    - - 溶液or懸浮液面
      - 固體(見左紫分支)
    - - 常用內標準法
      - 化學干擾&基質效應比其他原子化法小
  - - - 由共振譜線組成，基態→激發態的結果
      - highly specfic，因為元素電子激發能量特定，所以譜線窄
      - 較便宜
      - 精確度較高
    - - 種類
        
        hollow cathode lamp
        
        楊極：鎢
        
        陰極：欲測金屬
        
        加電壓，管內惰性氣體離子化，移動，動能把金屬表面電子濺射出來
        
        electrodeless descharge lamp
      - 調節
        
        固定光源強度，變動頻率，偵測到1.光源的變動訊號2.火焰的連續訊號→用RC濾片濾掉火焰訊號
    - - 光譜
        
        燃燒產物
        
        產生寬吸收帶或散射
        
        樣品基質
        
        吸收度和濃度正誤差
        
        在樣品中+過量干擾物，使基質產生之干擾不明顯(radiation buffer)
        
        雙線校正
        
        設1近分析譜線的參考譜線
        
        譜線源自陰極管中之鈍氣/不純物/樣品的非共震emissio譜線
        
        設參考譜線的功率降低源於基質的吸收/散射
        
        連續光源校正
        
        氘燈
        
        1rotation chopper使連續光/線光源交替通過原子化器2狹縫夠寬所以連續光源被吸收的部分可忽略
        
        zeeman
        
        1.中央(pi)譜線吸收和磁場平行極化輻射
        
        2.兩旁(sigma)譜線吸收和磁場垂直極化輻射
        
        原子蒸氣在磁場下電子能階分裂
        
        分析物在光源被極化的半圈有吸收，另半圈無；基質產物在兩者中階吸收
        
        background correction
        
        高電流
        
        1產生高濃度為激發原子2.加寬物種發射譜帶
        
        中央產生最低強度位置波長=吸收峰波長
        
        1高電流：背景2.低電流：總吸收度
        
        校正值：總吸收-背景
      - 化學
        
        形成低揮發化合物
        
        由陰離子和分析物形成低揮發性化合物造成
        
        可由1高溫2releaseing agent (和干擾物作用之陽離子Sr 鑭)去除
        
        pretective agent：與帶測物呈穩定揮發性物質(EDTA/APDC/8-hydroxy-quinpline)
        
        解離平衡
        
        游離平衡
        
        抑制劑提供電子，抑制游離，較正曲線斜率↑，靈敏度↑
    - - 樣品製備
        
        火焰：液體Only
        
        電熱：1可不用製成溶液2.校正困難
      - 標準添加
        
        基質產生之化學/光譜干擾可被部分or完全抵消
  - - - 種類
        
        electrodeless descharge lamp
        
        優點：可用連續&脈衝操作
        
        缺點：多種元素沒有這種燈管可用
        
        laser
        
        優點：高強度，窄帶寬
        
        缺點：貴
      - 特性
        
        連續光源在原子吸收範圍這麼窄的範圍功率弱，靈敏度差
- - - - 用於：AA AE Fluo
      - 操作特性
        
        取樣效率(靈敏度)差
        
        樣品多流到廢棄槽
        
        原子在火焰中的時間短
        
        再現性佳
        
        較準確
      - 燃料/氧化劑
        
        形成穩定氧化物的金屬，需過量燃料
  - - - 以峰高/峰面積定量
      - 靈敏度高(只需少量樣品)
      - 石磨爐法分析速度慢
      - 分析範圍窄，僅用於火焰或電漿不適用之偵測極限
      - 較不準確
- - - - pneumatic
        
        用高壓氣流吹散液體
      - ultrasonic
      - electromal
    - - electromal
      - arc & spark
      - direct sample insertion
      - laser
      - Glow discharge