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Compositional/Phase analysis (조성분석법 (ICP-MS (10^-12 수준의 작은 함량을 지니는 금속과 몇가지…
Compositional/Phase analysis
X-ray diffraction
Bragg's formulation
λ=2dsinθ
θ or d가 만족하면 그에 맞는 d or θ가 정해져 있다.
경로차가 파장의 정수배로 일어날때 보강간섭이 일어난다.
경로차를 알면 어떤 원자인지 알 수 있다.
d=a/(h^2+k^2+l^2)^1/2
Anatomy of diffraction pattern-sample
peak position, 2θ(d)
결정구조, 이온 반경
systematic abesences
구조 해석
peak intensity
결정구조, 원자의 종류, 결정 입자의 배향
peak shape
결정 입자의 크기, 응력
The Scherrer formula
B(2θ)=Kλ/Lcosθ
FW(S) x cosθ=Kλ/L + 4ε(=C)sinθ
Microstrain Broadening
B(2θ)=Cε(sinθ/cosθ)
조성분석법
ICP-OES
10^-8 수준의 함량을 지니는 금속과 비금속 원소의 농도를 측정하는데 이용
정량 측정
AAS
흡수하는 빛의 세기를 측정하여 정량 분석하는 방법
측정 파장범위 : 190~900nm
ICP-MS
10^-12 수준의 작은 함량을 지니는 금속과 몇가지 비금속
유도 결합 플라즈마를 이용하여 용액 시료를 이온화하고 이온들을 질량 분석기를 이용하여 분리
OES와 비교하였을때 빠른속도와 정밀도 민감도를 지닌다.
XRF
형광 x-선의 파장을 분리하여 시료 내에 존재하는 원소들을 정성,정량 분석
측정 가능원소 : C ~ U
측정 방식 : 다원소 동시 측정/ Scanning/비파괴
XPS
광전자 분석, 미지 시료 표면의 원소 정량 분석, 화학 상태 분석(가벼운 원소도 가능)
FTIR
유기물, 무기물, 반도체 웨이퍼, 폴리머, 러버, 이물질 구조 분석
Raman Spectrometer
라만 스펙트럼을 측정하여 분자의 진동 구조를 연구하는 분석 장비
Thermal Analysis
TGA
온도변화 및 시간변화에 따를 시료의 무게변화를 측정하여 분석
DTA
특징적인 온도를 분석하는데 적합
DSC
용융열 또는 결정화열과 같은 엔탈피 결과를 함께 알수 있음