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Data Mining for Wafer Testing - Coggle Diagram
Data Mining for Wafer Testing
Data Visualization
Wafer Mapping
觀察瑕疵位置異常規律性
Trend Chart
探勘針偏異常趨勢
Scatter Plot
檢視雙變數資料關聯性
Statistical Analysis
Spearman's ρ
CP參數關聯分析
Chi-square Test
瑕疵分布差異檢定
SPC
監控瑕疵數量的時序變化
Classification/
Regression
Decision Tree
分析製程參數與瑕疵之因果關係
Random Forest
運用Feature Importance
分析肇因排序
Neural Network
瑕疵預測
SVM
缺陷模式分類
Clustering
DBSCAN
缺陷分群並分析共通問題來源
k-Means
Anamaly Detection
Isolation Forest
異常數據檢測
OneClass SVM
監控異常
Dimensionality Reduction
PCA
高維度資料可視化分析
t-SNE
Association Rule Mining
Apriori Algorithm
分析製程步驟與瑕疵之關聯規則